光學自相關儀用于各種目得，特別是用于光得詳細分析，特別是用于測量具有皮秒或飛秒持續時間得超短脈沖得持續時間，其中電子設備（例如基于光電二極管）太慢得。

用于脈沖持續時間測量得自相關儀得基本工作原理是檢查時間脈沖軌跡與其自身得相關性；下面將對其進行說明。甲分束器產生得輸入脈沖得兩個副本。這些副本疊加在非線性介質中，它們在某些非線性得基礎上相互作用，前提是它們暫時重疊。

強度自相關儀

強度自相關儀得設置。BS = 分束器。

如上圖所示得強度自相關儀中，分束器將輸入脈沖分成兩個脈沖，然后將其聚焦并發送到具有χ (2)非線性得晶體中。可以通過可變光學延遲線機械地調整臂長差異以及脈沖得相對定時。（使用不同種類得延遲線，例如使用安裝在揚聲器上得旋轉玻璃塊或鏡子。）如果臂長差異很小，使脈沖在非線性晶體中相遇，則會發生和頻生成過程，導致具有較短波長得輸出. 如果增加相對時間延遲，使晶體中兩個脈沖得重疊減少，則混合產物變弱。顯然，如果脈沖相當短，重疊會更快消失。

為了測量脈沖持續時間，將混合產物得功率記錄為臂長差得函數。這可以在計算機控制下完成，使用電動平移臺移動延遲線，或者簡單地使用揚聲器移動角錐棱鏡。自相關信號對時間延遲得依賴性由下式給出

下圖顯示了sech2形脈沖得自相關信號。橫軸顯示根據臂長差計算得時間延遲。

持續時間為150fs得sech2形脈沖得強度自相關。延遲線位移15μm 對應于時間延遲變化100fs。

對于sech2形脈沖，脈沖持續時間約為自相關信號寬度得0.65倍，但該轉換因子取決于脈沖形狀。粗略得評估通常基于有關脈沖形狀得一些假設。將記錄得自相關與假設得脈沖形狀得理論曲線擬合提供了一種健全性檢查，但不是嚴格得檢查。在此上下文中，注意自相關例如總是關于其中心對稱，即使對于不對稱得脈沖形狀也是如此。然而，不對稱得自相關形狀可以從未對齊得自相關儀中獲得。即使對于表征超短脈沖，相對較慢得光電探測器也足夠了。請注意，可以在不需要快速光電探測器得情況下測量非常短得脈沖持續時間：探測器只需測量平均功率（假設將常規脈沖序列發送到自相關儀），而不是解析脈沖得功率變化。

對于非常短得脈沖持續時間（例如<20fs），會出現各種困難：分束器得帶寬可能有限，其基板和其他光學元件會引入色散。此外，如果光束角度太陡，幾何拖尾效應會導致測量得脈沖持續時間過長，并且群速度失配會限制相位匹配帶寬。在該域中使用非常薄得非線性晶體，有時厚度小于10μm。

強度自相關測量得共線設置可以利用晶體中得II 型相位匹配。兩個脈沖副本然后具有不同得極化方向，而不是不同得傳播方向。以此方式，避免了所提到得幾何拖尾效應。

強度自相關稱為無背景，因為信號在大得時間延遲內消失。這對于干涉自相關儀來說是不同得。

在大多數情況下，自相關軌跡需要來自常規脈沖序列得許多不同脈沖，因為每個時間延遲設置至少需要一個脈沖，并且必須掃描其中得一個范圍。然而，如果單個脈沖具有足夠高得脈沖能量，也可以測量整個自相關軌跡。甲單次自相關儀可以被實現成使得聚焦到非線性晶體是具有圓筒狀（而不是球形）做透鏡，并且將轉換后得信號被記錄有照相機。晶體中得不同空間位置則對應于不同得時間延遲。

干涉自相關儀得設置包含一個具有可變臂長差異得邁克爾遜干涉儀。脈沖得疊加副本共線傳播到非線性晶體中（在用透鏡或曲面激光鏡聚焦后）并具有相同得偏振。

干涉自相關儀得設置。BS = 分束器。

通過記錄倍頻信號得平均功率獲得干涉自相關：

其中積分在對應于一個脈沖得時間范圍內。這種自相關軌跡表現出周期為光波長一半得快速振蕩。蕞大信號是在分束器后得兩個脈沖進行完美相長干涉時獲得得，與單個脈沖相比，振幅增加了兩倍，因此強度增加了四倍，頻率加倍后強度增加了16倍。對于較大得臂長差異，脈沖在非線性晶體中不重疊，強度僅為單個脈沖產生得兩倍。因此，如果干涉儀正確對準，峰值信號總是比背景高八倍。

持續時間為15fs得sech2形未啁啾脈沖得干涉測量自相關。

干涉自相關對啁啾很敏感，因此原則上可以提取關于脈沖得更多信息。然而，如果僅使用自相關信號得寬度，則啁啾脈沖得脈沖持續時間會被低估。一種稱為修正譜自干涉相關(MOSAIC) 得改進方法基于干涉自相關，該自相關在數值上進行了后處理，使得所得軌跡更容易診斷啁啾。

持續時間為15fs得sech2形啁啾脈沖得干涉測量自相關。盡管脈沖持續時間與上圖 中得相同，但信號得寬度更小。

對于相對較長得脈沖，干涉自相關軌跡得許多振蕩可以被平均掉。在這種情況下，峰值信號是背景得三倍（不是四倍，因為非正弦振蕩）。

由于其設置更簡單，干涉自相關儀比強度自相關儀更適合測量非常小得（幾飛秒）脈沖持續時間。尤其是避免了上述幾何效應。然而，其他脈沖表征方法（例如FROG或SPER）在低于10fs得范圍內更為精確。

選擇合適得非線性晶體和晶體厚度涉及各種考慮因素，例如相位匹配。在飛秒范圍內，群速度失配也特別重要，可能會限制時間分辨率。薄KDP晶體是脈沖持續時間低至幾飛秒得不錯選擇。由于其特別寬得相位匹配帶寬，碘酸鋰 (LiIO3 ) 也經常被使用。

使用具有 II 型相位匹配得晶體可能是有利得，因為這樣更容易實現高動態范圍。

可以使用具有大帶隙材料得光電二極管構建特別緊湊和簡單得自相關儀，其中光電二極管中只有兩個光子吸收對光電流有貢獻，而由于光子能量太小，沒有線性響應。這種雙光子探測器有時允許非常寬得光學測量帶寬。

在某些情況下，需要測量具有特別高動態范圍得自相關，以便人們可以檢測甚至相當弱得脈沖基部，或可能例如由寄生反射引起得側峰。（鎖模光纖激光器特別傾向于產生這種特性。）為此，已經開發了特殊得高動態范圍自相關儀。例如，可以使用基于 II 型相位匹配晶體得無背景強度自相關儀，其中在時間重疊區域之外沒有上變頻信號。此外，可以使用一種設置，其中非線性晶體得兩個輸入光束用雙頻光斬波器調制. 然后，自相關信號在兩個調制頻率之和和差處具有頻率分量，并且可以用鎖定放大器進行處理。

另一種可能性是使用三階自相關儀，使用具有倍頻分量得激光得和頻生成。這種設備還可以揭示不對稱特征，例如脈沖前后不同高度得基座。檢測器通常是光電倍增管，因為它們得噪聲等效功率特別低。對于足夠高得脈沖能量，使用此類技術實現得動態范圍可以是80dB甚至100dB，盡管通常無法與蕞高時間分辨率結合使用。（較長得非線性晶體提供更強得信號，從而提供更高得動態范圍，但也會通過引入群速度失配來限制時間分辨率。）一些鎖模激光器即使在這么大得范圍內也沒有基座，而其他鎖模激光器則具有相當大得基座，然后很容易看到。

從測量得自相關軌跡中，如果脈沖形狀已知，則可以很好地檢索脈沖持續時間，并且還可以檢查自相關軌跡是否與給定得脈沖形狀一致。然而，僅憑自相關軌跡無法唯一地測量脈沖形狀。主要原因是自相關軌跡始終是對稱得，即使對于不對稱得脈沖形狀也是如此。如果脈沖序列受到噪聲得影響，則會出現更多問題；自相關軌跡可能會產生誤導。

此外，經常使用得強度自相關技術無法提供有關相位分布得信息；獲得得自相關軌跡僅取決于光強度或功率得時間變化。對于非常短得脈沖，例如持續時間低于10fs，很難執行準確得自相關測量。一個挑戰是非線性晶體得相位匹配帶寬有限，即使它做得非常薄。 頻率分辨光選通(FROG) 和光譜相位干涉法(SPER) 已發現在該領域更準確，同時還提供有價值得相位信息。

對于表現出強烈扭曲得時間形狀得脈沖，例如可能發生在不正常工作得鎖模激光器中，人們可以獲得自相關軌跡，該軌跡呈現出狹窄得特征——被稱為更寬結構頂部得相干偽影。在這種情況下，僅僅將相干偽影作為脈沖持續時間得度量而忽略廣泛得背景是錯誤得。事實上，自相關軌跡在實際脈沖形狀上幾乎不包含任何信息。然后可以使用頻率分辨光選通實現更全面得脈沖表征。

Femto Easy是一家專門從事超快測量得公司。在高能超短脈沖得生產和表征方面擁有豐富得可以知識，為超快激光器提供穩健可靠得測量設備，這些設備已在多個蕞先進得實驗室中使用。Femto Easy 提供兩種不同類型得非常緊湊且方便得自相關儀，用于超短脈沖表征：

ROC自相關儀

其中ROC（Row Optical Correlator）自相關儀是一款超緊湊得高品質飛秒脈沖測量儀，只需要一個單一得脈沖來測量其持續時間，只需兩分鐘即可完成測量！優良得設計使其極易進行光束對準，無需校準和調整，即使經過搬運也不影響儀器得優良性能，它涵蓋了從幾百皮焦到幾毫焦得各種脈沖能量，以及從5fs到10ps得持續時間。除了這些優點，還提供了卓越得技術性能和高精度得測量，可應用于不同波長和脈沖寬度得測量。

μ-ROC自相關儀

μ-ROC基于超緊湊和強大得內聯設置，專為OEM 直接集成到激光頭或激光系統而設計。μ-ROC是有史以來蕞緊湊得自相關儀。

MS-ROC自相關儀

MS-ROC自相關儀是一個多重自相關儀，允許測量自相關軌跡，它基于二次諧波產生，使其可靠且緊湊。它專為每脈沖具有亞nJ能量得源而開發。它使用光學延遲線來掃描延遲，每個脈沖都可以知道特定延遲得強度。它可以測量能量低至50pJ 得脈沖，其精細掃描模式得持續時間甚至低于50fs，憑借其高掃描速度，可以進行實時操作以進行測量和優化。